351张microSD耐久测试：177张失效，Amazon写入4.2PB

一位技术爱好者从2023年开始对351张microSD卡进行长期耐久性试验，通过不断写入、校验和擦除来尽可能快地耗尽闪存单元，测试目标是比较在极端连续写入压力下各品牌与型号的寿命，而非模拟日常消费场景。到目前为止，有177张卡出现故障、变为只读或出现大量校验错误，另有多张仍在运行或排队等待读卡器。

该项目覆盖52个品牌、111个型号；截至最新进展，107张卡仍在运行，67张在排队中等待测试硬件。发起人Matt Cole在相关社区分享了这些数据，结果显示不同品牌、不同定位（消费级、高耐久、工业级）之间的耐用性差异非常明显。测试中将卡分为三类：面向普通用户的消费级、面向频繁写入场景的高耐久级，以及附带数据手册并有明确耐久标注的工业级。

测试方法并不模拟手机或相机等日常使用，而是让卡片在极限条件下连续循环写入/校验/擦除直至失效，因此得到的是压力测试下的相对寿命，而非普通使用情况下的寿命预期。统计显示，消费级卡平均可承受约1万次编程/校验/擦除循环。表现靠前的五个消费级品牌为PNY、Kingston（金士顿）、Delkin Devices、Lexar（雷克沙）和Samsung（三星）。

一个意外亮点是Amazon Basics自有品牌的microSD卡：在测试中至今没有一张失败，已连续运行788天，完成约16,600次循环，累计写入约4.2PB数据。不过发起人并未将其纳入主排名，因为亚马逊可能在不更名的情况下更换NAND或其他组件，后续批次可能与当前样品不同。

同时，也有一些知名品牌在这项极限测试中表现不佳。Cole列举了ADATA、Gigastone、Micro Center、Silicon Power和SanDisk等为表现较弱的品牌。测试排除了无品牌杂牌卡的比较，因为这类产品的一致性较差、结果不稳定。

此前一次更新时报告了200张卡的情况，自那以后又有84张卡宣告失败，这反映的是持续高强度负载下的损耗速度，而非日常使用下消费者应预期的故障率。项目所需的硬件阵容相当庞大，包括多台迷你PC（如搭载Intel N95的Beelink Mini-S、五台TRIGKEY Green G4、搭载Intel N100的TRIGKEY K-N100、搭载Intel N150的AOOSTAR）以及两台较老的笔记本（MSI GE62VR-7RF Apache Pro，联想IdeaPad Y850），这些设备组成了一个持续运转的平台以维持高负载测试。

对普通消费者而言，这类极限耐久测试的参考价值在于揭示不同品牌和定位的microSD卡在频繁写入条件下寿命可能相差甚远。因此在为行车记录仪、监控设备或其它需要持续写入的应用选购存储卡时，应优先考虑耐久度数据，而不仅仅凭容量和价格做决定。